电镀膜厚仪_金东霖对被测样品发射一束一次X射线，样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。
传统的楔切法，光截法，电解法，都是有损检测。而X射线它采用非接触式穿透测量法，既不会伤害材料，更不会受板型、现场条件、洁净度等因素的影响。并且测量稳定、准确还可以对大部分磁性或非磁性材料进行测量。 

电镀膜厚仪_金东霖软体说明：
*  电脑操作系统 XP系统
*  测量膜厚元素范围：元素周期表13—92号元素间的所有镀层，
   使用FP法充许各元素镀层次序的自由组合测量层层次，zui多可以测量四层（加基材zui多五层）
*  仪器支持二种镀层厚度计算方法
  （1）、无标准片的FP法（Fundamental Parameter）全新数学计算方法。
     FP法名词解释：即在没有标准块的前提下，一样能精确测量，此方式是通过仪器直接读取镀层元能量信息，通过各无素能量信号的强弱或设定的各无素比例参数，以一种数学的方式直接计算镀的厚度。因为它不需要标准块，因此它不受标准块的限制，在没有各种合金镀层标准块的情况下样精确的测量各种二元、三元合金镀层）到目前为止，bowman是世界上*可实现此种新型测试技术的膜厚测量品牌，此技术已使用了17年。
  （2）、支持传统的带标准块的检量线法，即通过镀层标准块建立测试程式档案测量相对应的镀层厚度。