镀层膜厚仪_金东霖对被测样品发射一束一次X射线，样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。
传统的楔切法，光截法，电解法，都是有损检测。而X射线它采用非接触式穿透测量法，既不会伤害材料，更不会受板型、现场条件、洁净度等因素的影响。并且测量稳定、准确还可以对大部分磁性或非磁性材料进行测量。 

镀层膜厚仪_金东霖应用范围
  *  测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从17(Cl)到92(U);
  *  5 层 (4 镀层 + 基材) / 24 元素 / 共存元素校正;
  *  组成成分分析时可同时测定24种元素;
  *  镀液中元素含量分析;
  *  元素光谱定性分析;
  *  基材分析;
生产商及仪器型号：
制造商：美国BOWMAN公司
原产地：美国
型  号：BA 100