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ZETA电位 · 粒径 · 分子量测试系统·ELSZneo3
面议ZETA电位 · 粒径测试系统·ELSZneoSE2
面议多样品纳米粒子径测试系统·nanoSAQLA
面议多样品nano粒子径测量系统 nanoSAQLA(带自动取样器 AS50)
面议ZETA电位 · 粒径 · 分子量测试系统·ELSZ-2000ZS
面议显微分光膜厚仪 OPTM series2
面议膜厚量测仪 FE-300
面议嵌入式膜厚检测仪2
面议椭偏仪 FE-5000/5000S
面议分光干涉式晶圆膜厚仪 SF-3
面议多通道光谱仪 MCPD-9800 / 6800
面议总光谱光通量测量系统 HM/FM series
面议该检测器
是一种高性能的分光光度计,在光源测量、反射/透射测量、过程测量等方面取得了多项成果。
覆盖从紫外线到可见光和可见光到红外线的宽波长范围
带软件的样品照明电源,测量仪器批量控制
LIV测量,脉冲点测量,样品温控测量
设备校准的标准灯由我们自己的部门提供,并由 JCSS 校准公司注册。
照度、辐照度
光谱数据(光谱辐照度)
其他测量项目
三刺激值 XYZ、色度坐标 xy、uv、
u'v'相关色温、Duv、主波长、刺激纯度 显
色指数 Ra、R1 至 R15
峰值波长、半宽
光子通量密度 PFD、光合光子磁通密度PPFD
设备构成
单点型
•半导体晶圆的面内分布测量
•玻璃基板的面内分布测量
多点型
•实时测量
•流向品质管理
•真空室适用
导线型
•实时测量
•宽度方向品质管理
测量案例
超硬涂层的膜厚解析