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ZETA电位 · 粒径 · 分子量测试系统·ELSZneo3
面议
ZETA电位 · 粒径测试系统·ELSZneoSE2
面议
多样品纳米粒子径测试系统·nanoSAQLA
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多样品nano粒子径测量系统 nanoSAQLA（带自动取样器 AS50）
面议
ZETA电位 · 粒径 · 分子量测试系统·ELSZ-2000ZS
面议
显微分光膜厚仪 OPTM series2
面议
膜厚量测仪 FE-300
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嵌入式膜厚检测仪2
面议
椭偏仪 FE-5000/5000S
面议
分光干涉式晶圆膜厚仪 SF-3
面议
多通道光谱仪 MCPD-9800 / 6800
面议
总光谱光通量测量系统 HM/FM series
面议可以高速、高精度地测量各种玻璃基板上各种薄膜的膜厚和光学常数。除了支持包括下一代尺寸在内的大型玻璃基板外，它还支持 LCD、TFT 和有机 EL。
LCD
ITO / Glass, PI / OC / Glass, CF / Glass, Resist / Glass
TFT
SiN / a-Si / 玻璃
有机EL
有机EL / ITO / 玻璃
PDP
介电层/玻璃
