ZETA电位 · 粒径 · 分子量测试系统·ELSZneo3
【ELSZneo使光散射的物性评价迈向新舞台】ELSZneo是ELSZ series的机型,除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位(Zeta Potential,ζ-电位)和粒径测定之外,还能进行分子量测定的装置。作为新的功能,为了提高粒度分布的分离能力,采用了多角度测定。另外,也可实现测量粒子浓度测定、微流变学测定、凝胶的网状结构分析。全新的zeta电位平板固体样品池,通过新开发的对应高盐浓度的涂层,可以在生理盐水等高盐浓度环境下进行测量。3μL就能测定粒径的超微量样品池也位列其中,从而扩 参考价面议ZETA电位 · 粒径测试系统·ELSZneoSE2
本产品为粒径及zeta电位测量专用装置。ELSZneoSE选择了ELSZneo的新功能。 根据用途,可以根据需要定制任意数量的必要功能。... 参考价面议多样品纳米粒子径测试系统·nanoSAQLA
● nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法(DLS法)测量粒径(粒径0.6nm~10um)的装置。支持从稀薄到浓厚系广泛浓度范围内的多检体测定的新光学系统,实现了实验室必需的轻量、小型化、标准1分钟的高速测定。 另外,这是一款非浸泡型、不受接触器影响、无需自动取样器、标准配备“5检体连续测量”的新产品。... 参考价面议多样品nano粒子径测量系统 nanoSAQLA(带自动取样器 AS50)
产品信息 特点 nanoSAQLA 的特点 1个单元可轻松连续测量5个样品 实现了 在没有自动进样器的情况下难以 实现的 多个样品的 连续测量, 也可以通过改变每个样品的条件进行测量。 对应瘦... 参考价面议ZETA电位 · 粒径 · 分子量测试系统·ELSZ-2000ZS
●可测量稀薄溶液~浓厚溶液的ZETA电位和粒径,并可进行分子量测量的检测装置。●适用于粒径测量范围(0.6nm~10um),浓度范围(0.00001%~40%)。对电渗透流进行实测,可通过最小容量130μL 微量可抛式样品池实现... 参考价面议显微分光膜厚仪 OPTM series2
●非接触 · 非破坏 · 显微、对焦、测量1秒完成 ●OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪,测试膜厚、折射率n、消光系数k、反射率的新型高精度、高性价比的分光膜厚仪。适用于各种可透光膜层的测试,并有可针对透明基板去除背面反射,从而达到“真实反射率、膜厚”测试的目的。此外,软件操作简单、使用方便且简化了复杂的建模流程。... 参考价面议膜厚量测仪 FE-300
产品信息 特 长 薄膜到厚膜的测量范围、UV~NIR光谱分析 高性能的低价光学薄膜量测仪 藉由反射率光谱分析膜厚 完整继承FE-3000机种90%的强大功能 无复杂设定,操作简单,短時... 参考价面议嵌入式膜厚检测仪2
产品信息 特 点 采用分光干涉法 搭载高精度FFT膜厚解析系统( 第4834847号) 使用光学光纤,可灵活构筑测量系统 可嵌入至各种制造设备。 实时测量膜厚 可对应远程操作、多点测量... 参考价面议椭偏仪 FE-5000/5000S
产品信息 特点 可在紫外和可见(250至800nm)波长区域中测量椭圆参数 可分析纳米级多层薄膜的厚度 可以通过超过400ch的多通道光谱快速测量Ellipso光谱 通过可变反射角测量,可详细分析... 参考价面议分光干涉式晶圆膜厚仪 SF-3
即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色 非接触式、非破坏性光学式膜厚检测 采用分光干涉法实现高度检测再现性 可进行高速... 参考价面议多通道光谱仪 MCPD-9800 / 6800
产品信息 特长 应用广泛的测量仪。 以机型MCPD-9800为首,一共有3种对应12波长领域的测量仪。 我们可以根据客户的需求和用途提出的方案。 不同评价方法对应不同设备 ◎... 参考价面议总光谱光通量测量系统 HM/FM series
产品信息 特点 可处理高达2400mm的直管光学总光通量测量 测量系统符合IESNA的LM-79和LM-80标准 采用新的探测器,可以进行广动态范围的测量 测量部分的尺寸(积分球或积分半球)从250毫... 参考价面议