x-ray膜厚测试仪1.可测：单层,双层,多层,合金镀层,
2.测量范围:0.04-35um
3.测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
4.全自动台面：操作非常方便简单
5.可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的*。可测量各类金属层、合金层厚度等。
6.可测元素范围：钛（Ti）– 铀（U）  原子序 22 –92 
7.准直器：固定种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
8.自动种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
9.电脑系统：DELL品牌电脑,17寸液晶显示器，惠普彩色打印机
x-ray膜厚测试仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器，这种测量方法可以实现连续的实时在线测量。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。
无论是汽车部件、卫浴器具，还是半导体支架、接插端子、金银首饰，美国bowman公司都一一有理想的仪器去进行测量。美国bowman提供的都是高效率、低成本的测量仪器，它广泛应用于各类电镀工件的镀层测厚及贵重首饰的成色分析，简单易用，维护方便，是节省生产成本的好帮手。