x荧光膜厚仪规格描述：
1 X射线激发系统：垂直上照式X射线光学系统。
2 快速、精确的分析：大面积正比计数探测器和博曼仪器50瓦微聚焦X射线光管（X射线光束强度大、斑点小，样品激发佳）相结合，提供*灵敏度
3 准直器程控交换系统：可同时装配4种规格的准直器。
4 的*稳定性：自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正，确保稳定的测试结果 
5 例行进行简单快速的波谱校准：可自动检查仪器性能（例如灵敏性）并进行必要的修正，坚固的工业设计，可在实验室或生产线上操作。 
6 简单的元素区分：通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱，性能优化
7 可分析的元素范围大：预置800多种容易选择的应用参数/方法
8 测厚范围可测定厚度范围：取决于您的具体应用，基本分析功能采用基本参数法校正。
9 样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
x荧光膜厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器，这种测量方法可以实现连续的实时在线测量。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。
无论是汽车部件、卫浴器具，还是半导体支架、接插端子、金银首饰，美国bowman公司都一一有理想的仪器去进行测量。美国bowman提供的都是高效率、低成本的测量仪器，它广泛应用于各类电镀工件的镀层测厚及贵重首饰的成色分析，简单易用，维护方便，是节省生产成本的好帮手。