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面议校准测量仪 ULM 520 S-E
外测量的测量范围 [mm] 0 至 520
内测量的测量范围 [mm] 0.5 至 365
优点:
通用长度测量仪器,直接测量范围覆盖整个设备长度。比较仪配备水平基床(高度同质、坚硬花岗石)
X 轴测量系统:增量式高精度 Heidenhain 长度测量系统,测量元件长 100 mm
基床中载物台左和右侧的整个基床长度上的 Heidenhain 增量入射光测量系统
Z 轴测量系统:RENISHAW 增量,精密长度测量系统,长度 80 mm
设备尺寸 | 1080*380*480 |
外测量范围 | 0-520 |
内测量范围 | 0.5-365 |
测量行程 | 0-25 mm |
测量面∅ | 6 mm |
测憂面平行度 | 6 mm |
内测量的测量范围 | 0.5至670 |
直接测试范围 | 0至525 |
设备长度 | 1080 |
质量 | 160 |