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MarSurf VD 280 粗糙度和轮廓测量站
面议MarSurf LD 130 综合性轮廓和表面测量站
面议MarSurf CD 280工业计量仪器
面议MarSurf UD 130 综合性轮廓和表面测量站
面议MarSurf GD 280 粗糙度测量站
面议MarSurf GD 140 粗糙度测量站
面议便携式非破坏性工业X射线CT扫描仪NAOMi-CT系列
面议Mahr MarSurf M300 C 02移动式粗糙度测量仪
面议Mahr MarSurf LD 260轮廓粗糙度测量仪
面议Mahr MarSurf PS 10便携式粗糙度测量仪
面议Mahr MarSurf M 400粗糙度测量仪
面议Mahr MarSurf XR 20粗糙度测量仪
面议结构:
带有水平基座的比较仪(基座为高刚性大理石)
测量系统
X-轴:采用Heidenhain增量式高精度玻璃光栅尺,100mm(4in)Z-轴
Z-轴∶采用Heidenhain增量式反射光栅尺, 80mm(3.15in)
优点:
99%符合阿贝测量原理
在线式温度测量系统,配置2到3个传感器
计算机辅助修正机器的系统误差(CAA)
计算机辅助的仪器零位稳定功能
计算机辅助修正温度与测力对精度的影响
在整个测量过程中,测力始终保持稳定
大工作台(载重25Kg/55lbs),Z轴配置了高精度导轨静态或动态自动拐点识别功能
内螺纹测量时,支持Z轴自动定位
测量范围可灵活调整
大量的附件可供选择,用以常用或特殊的测量任务
设备尺寸 | 1080/1500/2000*380*480 |
应用范围 | 0-60mm |
安装柄直径 | 8mm |
测量行程 | 0-25 mm |
测量面∅ | 6 mm |
测憂面平行度 | 6 mm |
台面尺寸 | ∅60 |
产品型号 | SM 60 |
测力[N] | 1±0.2+显示装置测力 |
重量 | 9kg |