大口径光学元件吸收缺陷检测仪(Model PTM-2000-LA)，适用于各类大口径固体表面及亚表面缺陷的检测和分析，特别是各类大口径光学薄膜、光学元器件表面及亚表面吸收缺陷的检测和分析。本系统是一款非接触式、高分辨率、全自动化检测仪器，可以根据用户具体需求进行紫外、可见或者近红外波段的精密检测和分析。

1、高灵敏度；

2、高重复精度；

3、一键式操作 ；

4、样品更换便捷、无需重复校准；

5、可对吸收缺陷进行二维（三维）高分辨率成像；

6、可进行样品或者选定的缺陷点在激光辐照下的稳定性分析 ；

7、泵浦光源：可以标配，也可以根据用户需求选配。

注：可以根据客户需求提供同类特制仪器和相关测试的解决方案。