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半自动光学元件表面缺陷检测系统，是一款高分辨自动光学检测仪器，可对各种平面、球面、非球面光学元件的缺陷及外观进行自动化检测。该系统可根据美标、国标或客户自定义标准对划痕和麻点等表面缺陷进行检测。仪器内置功能齐全的分析软件，能为光学表面质量提供快速和可靠的判断。
产品特征 1、人工智能操作；
2、高性能数字相机；
3、自动检测、自动判别；
4、稳定、均匀的照明光源；
5、高精度的自动定位和扫描平台。
主要技术参数 | 半自动光学元件表面缺陷检测系统 | ||
| 型号 | OSI---3000 | OSI---3000S |
| 样品类型 | 平面 | 平面、球面、非球面 |
| 检测标准 | 美军标、国标或客户自定义标准 | 美军标、国标或客户自定义标准 |
| 检测效率 | 1200片/小时 （针对40/20标准，直径25.4mm样品） | 1200片/小时 （针对40/20标准，直径25.4mm样品） |
| 样品尺寸 | ≤100 mm x 100mm | ≤100 mm x 100mm |
注：可根据用户需求，提供同类特制系统。
