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光学元件三维缺陷检测仪(Model LS3D-2000)，适用于各类光学材料的三维缺陷检测和分析，特别是光学晶体、光学玻璃的三维缺陷检测和分析。本系统是一款快速、简便、高灵敏度检测仪器。
产品特征 1、速度快；
2、高灵敏度；
3、一键式全自动操作。
主要技术参数 | 光学元件三维缺陷检测仪 | |
型号 | LS3D-2000 |
缺陷检测灵敏度 | 10 μm |
样晶尺寸范围 | 尺寸可订制 |
检测速度 | <2h@ 100 mmx 100 mmx20 mm |
设备重量 | 300kg |
注：可以根据客户需求提供同类特制仪器和相关测试的解决方案。
