和XUL系列一样，FISCHERSCOPE®X射线XAN®仪器非常适合分析简单形状的样品。然而，XAN系列的一大优势在于其高质量的半导体探测器。X射线荧光不仅可以测量镀层的厚度，还可以分析合金（例如铜）的成分。

XAN系列总共包括5款台式XRF光谱仪，涵盖广泛的应用范围。XAN215具有经济高效的PIN检测器。非常适合简单的镀层厚度任务，例如铁上的锌层或Au/Ni/Cu。对于更复杂的合金或贵金属应用，我们建议使用带有硅漂移检测器SDD的设备（例如XAN220）：由于其分辨率更高，可以可靠地区分金和铂。当您需要检测痕量重金属和其他有害物质时，XAN250是您的理想选择。

在 XAN 220, XAN 222, XAN 250和XAN 252上，您现在可以更高精度和更快速度完成测量。与，这些仪器都配备了由Fischer自主研发的数字脉冲处理器DPP+。通过将新处理器与同样新获得的拥有更大有效面积(50 mm²)的硅漂移探测器相结合，可获得并处理更多的信号，同时还能保证的能量分辨率。因此，您的收益是：最多可缩短2/3的测量时间，或者减少标准偏差达45%。