COULOSCOPE CMS2 和 COULOSCOPE CMS2 STEP

COULOSCOPE CMS2 和 COULOSCOPE CMS2 STEP

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2024-04-28 10:04:30
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南通菲希尔测试仪器有限公司

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产品简介

特性高精度测量多层金属镀层的厚度(库仑法)根据DINENISO2177进行测量通过彩色显示屏和图形支持的用户指南直观地操作可轻松选择电解速度(0.1-50微米/分钟)和电解面积(0.6-3.2mm)针对不同镀层系统(如铁上镀锌或黄铜上镀镍)预先设定了近100种测量应用测量单元上电压曲线的图形显示图形和统计评估带支撑架的部分自动化测量

详细介绍

特性

  • 高精度测量多层金属镀层的厚度(库仑法)
  • 根据DIN EN ISO 2177进行测量
  • 通过彩色显示屏和图形支持的用户指南直观地操作
  • 可轻松选择电解速度(0.1-50微米/分钟)和电解面积(0.6-3.2mm)
  • 针对不同镀层系统(如铁上镀锌或黄铜上镀镍)预先设定了近100种测量应用
  • 测量单元上电压曲线的图形显示
  • 图形和统计评估
  • 带支撑架的部分自动化测量，适用于各种样品尺寸
  • 全面的配件组合，以适应特定的要求

COULOSCOPE CMS2 STEP的附加功能

  • 同时测量镀层厚度和电位差
  • 根据ASTM B764 - 04和DIN EN 16866进行电位差测试
  • 银参比电极测量前的准备工作(产生必要的AgCl层)
  • 电解电流可调整
  • 可直接在测厚仪显示器上评估电位曲线

应用

  • 电镀生产过程中的监控和成品的进厂检验
  • 可以精确测量多种金属镀层的厚度0.05–50µm(根据材料不同)
  • 金属和非金属基材上单层和多层镀层厚度的测量
  • 多镀层体系：例如在铁或塑料基体(ABS)上镀铬/镍/铜等多层镀层
  • 双镀层体系：例如银或铜上面镀锡或镀镍
  • 单镀层如铁上镀锌

COULOSCOPE CMS2 STEP的额外应用

  • STEP测试：在铜、铁、铝或塑料衬底(ABS)上的多层镍层系统

用于质量控制的库仑法镀层厚度测量

在一定的厚度以上，X射线荧光对镀层的无损测量达到了极限，这就是COULOSCOPE®CMS2发挥作用的地方。它用库仑法测量多种金属镀层的厚度，这是做相当简单的退镀处理。COULOSCOPE CMS2可以准确地测量许多常见的单层和多层镀层。

库仑法的成本效益高，可精确地替代X射线荧光法-前提是你可以接受一种破坏性的测量方法。它为您提供了的灵活性，因为它可以用于广泛的镀层组合。您可以使用库仑法测量镀层厚度，特别是在电镀镀层的质量控制中，以及用于监测印刷电路板上的残余纯锡厚度。

STEP测试:库仑法测量镀层厚度和多层镍的电化学电位测量

如果你想在使用库仑法测量镀层厚度的同时测量电化学电势，那么COULOSCOPE CMS2 STEP就是你的选择。STEP测试方法可以同时测量多层镍镀层的电位差和镀层厚度，非常适合测定这些镀层的腐蚀行为。

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