GOLDSCOPE SD

特点无损、快速、精确的金测试宽敞的测量室紧凑而坚固的设计，适合长期使用无需样品制备 参考价面议

FISCHERSCOPE X-RAY XAN

特点根据DINISO3497和ASTMB568标准进行金属和贵金属分析，镀层厚度测量和RoHS筛查的通用X射线荧光光谱仪半导体检测器（PIN和SDD）确保出色的检测精度和高分辨率XAN250和252：用于测量铝，硅或硫之类的轻元素 参考价面议

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500

特点通用手持式X射线荧光分析仪，即使材料组合困难复杂的情况下，也可以进行精确的镀层厚度测量和材料分析 参考价面议

FISCHERSCOPE X-RAY XUL 和 XULM

特点根据DINISO3497和ASTMB568，用X射线荧光法分析电镀液和测量镀层厚度XULM的最小测量点约0.1mm 参考价面议

FISCHERSCOPE X-RAY XDL和XDLM

特点能量色散X射线荧光光谱仪，自动进行材料自动分析和镀层厚度的无损测量，采用ISO3497和ASTMB568标准 参考价面议

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL

特点采用DINISO3497和ASTMB568标准，用于自动测量达到0.05μm的镀层和用于ppm级含量的材料分析的通用X射线荧光光谱仪3种不同的探测器可选（Si-PIN二极管 参考价面议

X射线光学器件

X射线毛细管光学器件用于引导和塑形X射线 参考价面议

FISCHERSCOPE X-RAY PCB系列

印制电路板测量专用系列当今的印刷电路板具有大量的镀层触点 参考价面议

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD

特点通用X射线荧光分析仪，用于根据ISO3497和ASTMB568标准自动测量超薄镀层（0.05μm）百万分之一以下的精细材料分析使用Fischer公司超大有效面积的硅漂移探测器（SDD50mm²）6种可切换基本滤片和4种可切换准直器优化测量条件分析轻元素，例如铝，硅和磷样品高度高达14厘米高精度，可编程XY工作台，定位精度为5µm，用于小型结构的自动测量 参考价面议

X射线窗口

对于X射线技术和X射线分析而言，在许多情况下需要透光窗口例如，这些窗口可以作为X射线管和探测器的透明气体屏障 参考价面议

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ

特点同时测量从Al（13）到U（92）的多达24个元素 参考价面议

中子光学器件

特别受益于局部通量增加的方法中是中子散射法，用于例如高压电池中检查小样品，例如层析成像中需要小源，或例如中子活化分析中需要高空间分辨率 参考价面议