热流仪/快速冷热冲击测试机/高低温热流仪/高低温气流仪/快速冷热交替气流仪/电子芯片热流仪

      热流仪、快速高低温冲击测试仪适用于各类半导体芯片、闪存Flash/EMMC、PCB 电路板IC、光通讯（如收发器 transceiver 高低温测试、SFP 光模块高低温测试等）、电子行业等进行IC 特性分析、高低温循环测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验。

热流仪/快速高低温冲击测试机与传统高低温测试箱、温湿度测试箱对比主要优势：
1、可针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个 IC (模块)，单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件
2、inTEST 对测试机平台 load board 上的 IC 进行温度循环 / 冲击；传统高低温试验箱无法针对此类测试

【工作原理】

　　1、试验机输出气流罩将被测试品罩住，形成一个较密闭空间的测试腔，试验机输出的高温或低温气流，使被测试品表面温度发生剧烈变化，从而完成相应的高低温冲击试验；

　　2、可针对众多元器件中的某一单个IC或其它元件，将其隔离出来单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件，与传统冷热冲击试验箱相比，温变变化冲击速率更快。

【工作模式】

　　A）2路主空气管输出，由分布头分为8路供气，带2套1拖8 系统

　　B) 2种检测模式 Air Mode 和 DUTMode测试和循环于高温/常温/低温(或者不要常温）

       1. 设备型号：WBE-KSWDCJ01

　　2. 样品盒尺寸：直径140mm×高50mm

　　3. 制冷方式：采用风冷式HFC环保制冷剂复叠系统，温度可达-70℃

　　4. 噪音：≤65dB（A声级）

　　5. 条件：风冷式环境温度在+23℃时

　　6. 温度控制范围：-70℃～+250℃

　　7. 冲击温度范围：-60℃～+200℃

　　8. 温度转换时间：≤10秒

　　9. 温度偏差：测试品恒定在-40℃时,温度偏差为±1℃

　　10.冲击气流量：1.9~8.5L/s(分为8路，每路0.23~1.06 L/s）连续气流

　　11.温变速率降：RT+10℃降至-40℃≤60s

　　12.试品表面温度：RT+10℃降至-40℃约1分钟试品表面温度达到，气体温度与样品温度可选择测控

　　13.控制系统：采用进口智能PLC触摸屏控制，7寸彩色屏

　　14.试品：带2套1拖8 系统，金属封装PCB板模块8片；

　　15.前端空气经干燥过滤器处理,产品测试区及附近无明显结露现象。设备可以连续运转不需进行除霜。

　　16.外形尺寸：宽650×高1400×深900（mm）以实物为准

　　17.使用电源：220V 3KW