XLNCE SMX-BEN 台式能量色散X射线荧光分析仪（EDXRF）为工艺开发、过程控制和质量保证等领域提供无损检测、薄膜层厚和成分的测量手段。是研发工作和失效分析中的分析方法。它能促进在前期或早期生产阶段的材料选择和配方制定，并支持加工平台工具以及产能生产。

• 提供一系列可选择的X射线光源和初级滤片
• 配备一代的硅漂移探测器
• 为简易校准过程提供经验值和基本参数解决方案
• 超大分析样品室
• X-Y-Z可编程定位

特殊应用领域：

• 光伏制造
• 金属涂层
• 晶圆级金属化和微电子
• 腐蚀/磨损和热障分析

XLNCE SMX-BEN提供了的多样化分析和超高的性价比。